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本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语,按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外,本文件的某些部分适用于相关领域(如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。
标准编号:GB/T 40300-2021
标准名称:微束分析 分析电子显微学 术语
英文名称:Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:2021-08-20
实施日期:2022-03-01
标准状态:现行
起草单位:北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
起草人员:柳得橹、汤斌兵、贺连龙
文件格式:PDF
文件页数:34页
文件大小:624.51KB
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