SY/T 7410的本部分规定了聚焦离子束切片技术测定岩石三维孔隙结构的方法及质量要求。
本部分适用于岩石样品的微一纳米级孔隙结构分析。
标准编号：SY/T 7410.2-2020
标准名称：岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法
英文名称：3D pore structure characterization of rocks-Part 2: FIB-SEM method
发布部门：国家能源局
发布日期：2020-10-23
实施日期：2021-02-01
起草单位：中国石油勘探开发研究院石油地质实验研究中心、中国科学院地质与地球物理研究所、中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院无锡石油地质研究所、中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院、中国石油勘探开发研究院新能源研究所
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