GB/T 22586-2018 电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻

大尾 · 发表于 2023-1-10 11:06:44

本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。
本标准适用于表面电阻的测试范围如下：
——频率：8 GHz<f<30 GHz；
——测试分辨率：0.01 mΩ（f = 10 GHz）。
测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用RS ∝ f 2的关系折合到10 GHz的值。
标准编号：GB/T 22586-2018
标准名称：电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻
英文名称：Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-10-01
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 22586-2008
起草单位：电子科技大学、清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所
起草人员：曾成、罗正祥、补世荣、魏斌、吉争鸣、孙亮
文件格式：PDF
文件页数：34页
文件大小：913.26KB

标准全文下载：

GBT 22586-2018.pdf (913.26 KB)

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GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻

GB/T 22586-2018 电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻