GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法

大尾 · 发表于 2023-1-10 10:47:18

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
标准编号：GB/T 14028-2018
标准名称：半导体集成电路模拟开关测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 14028-1992
起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子(北京)股份有限公司、西北工业大学
起草人员：张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、黄德东
文件格式：PDF
文件页数：25页
文件大小：539.26KB

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GBT 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法.pdf (539.26 KB)

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