本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。
本标准适用于高频数字微电子封装。
标准编号：SJ/T 11704-2018
标准名称：微电子封装的数字信号传输特性测试方法
英文名称：Digital signal transmission test method for microelectronic packages
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
起草单位：中国电子技术标准化研穷院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学、中国电子科技集团公司第五十八研究所
文件格式：PDF
文件页数：7页
文件大小：3.33MB
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