本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
标准编号：SJ/T 11699-2018
标准名称：IP核可测性设计指南
英文名称：Guidelines for design for testability of IP cores
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
起草单位：哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心、合肥工业大学
文件格式：PDF
文件页数：20页
文件大小：11.97MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(qbw86@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
