YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法

显示全部楼层 · 发表于 2023-1-4 22:50:05

本标准规定了电感祸合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。
本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定，测定范围见表1。
标准编号：YB/T 4590-2017
标准名称：硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
英文名称：Determination of multi-element contents in high purity graphite used for silicon material-Inductively coupled plasma atomic emission spectrographic method
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2017-04-12
实施日期：2017-10-01
标准状态：现行
起草单位：亚洲硅业(青海)有限公司、国家石墨产品质量监督检验中心、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司、冶金工业信息标准研究院
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：1.45MB

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YBT 4590-2017.pdf (1.45 MB)

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