SN/T 3480的本部分规定了进口电子电工行业成套设备之半导体封装测试设备(以下简称“成套半导体封装测试设备”)的检验技术要求。
本部分适用于3.1所列举的成套半导体封装测试设备的检验。
标准编号：SN/T 3480.4-2016
标准名称：进口电子电工行业成套设各检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设各
英文名称：Technical requirements for the inspection of complete set of equipment in electronic and electrical industry for import—Part 4:Semiconductor package and final test equipment
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2016-08-23
实施日期：2017-03-01
起草单位：中华人民共和国上海出入境检验检疫局、中华人民共和国福建出入境检验检疫局、中华人民共和国厦门出入境检验检疫局、中华人民共和国重庆出入境检验检疫局、中华人民共和国天津出入境检验检疫局
起草人员：靳付周、李秀平、任焕西、吴非、郑轮、滕明华、方斌、乔治、陈磊、唐军
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：266.70KB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(qbw86@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
