DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

贵州省地方标准(DB52) · 2022-12-31 12:50:49

标准编号：DB52/T 1104-2016
标准名称：半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
发布部门：贵州省质量技术监督局
发布日期：2016-04-01
实施日期：2016-10-01
文件格式：PDF
文件页数：18页
文件大小：701.56KB

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