本部分规定了用TE1}i小室和宽带TE1}小室测量来自集成电路(IC)的电磁辐射的方法。
本部分适用于定量地测量IC的射频（RF)辐射发射。
标准编号：SJ 21147.2-2016
标准名称：军用集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量一TEM小室和宽带 TEM 小室法
英文名称：Measurement of electromagnetic emissions for military integrated circuits -Psrt 2:Measurement of radiated emissions-TEM cell and wideband TEM cell method
发布部门：国家国防科技工业局
发布日期：2016-01-19
实施日期：2016-03-01
起草单位：工业和信息化部电子第四研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国科学院自动化研究所
文件格式：PDF
文件页数：15页
文件大小：5.36MB
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