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SJ 21075-2016 微波组件目检要求

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camychen

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发表于 2022-12-30 19:20:26 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了微波组件产品封盖前对内部可视部分目检、以及封盖后对产品外部目检的检验要求。
标准编号：SJ 21075-2016
标准名称：微波组件目检要求
英文名称：Visual examination requirements of microwave assembly
发布部门：国家国防科技工业局
发布日期：2016-01-19
实施日期：2016-03-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
文件格式：PDF
文件页数：15页
文件大小：5.34MB

标准全文下载：
SJ 21075-2016 微波组件目检要求.pdf (5.34 MB)

文档首页截图如下：
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