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SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

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秀才

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发表于 2023-10-18 11:23:23 | 显示全部楼层 |阅读模式
本文件规定了半导体分立器件直流参数测试设备的术语和定义、技术要求、测量方法。适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01V~5000V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过
1nA~10A,脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10A~1200A 的
分立器件测试设备。
标准编号:SJ/T 11820-2022
标准名称:半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2022-09-30
实施日期:2023-01-01
标准状态:现行
文件格式:PDF
文件页数:9页
文件大小:3.32MB

标准全文下载:
SJT 11820-2022.pdf (3.32 MB)

文档首页截图如下:
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