标准编号：YS/T 666-2008
标准名称：工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称：Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布部门：国家发展和改革委员会
发布日期：2008-03-12
实施日期：2008-09-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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