标准编号：GB/T 33657-2017
标准名称：纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
英文名称：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
发布部门：国家质检总局 国家标准委
发布日期：2017-05-12
实施日期：2017-12-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。