标准编号：GB/T 32188-2015
标准名称：氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
英文名称：Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
发布日期：2015-12-10
实施日期：2016-11-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。