标准编号：GJB 762.3A-2018
标准名称：半导体器件辐射加固试验方法 第3部分：γ瞬时辐照试验
英文名称：Testing methods for radiation hardness of semiconductor devices. Part 3：Testing for gamma transient irradiation
发布部门：中央军委装备发展部
发布日期：2018-11-19
实施日期：2019-03-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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