标准编号:JIS K0189-2013
标准名称:微束分析 电子探针显微分析 波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
英文名称:Microbeam analysis-Electron probe microanalysis-Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
发布部门:日本经济产业省(通产省)
发布日期:2013-07-22
实施日期:2013-07-22
标准状态:现行
文件格式:PDF