标准编号:IEC 60749-26-2013
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电敏感性(ESD)测试 人体模型(HBM)
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
发布部门:国际电工委员会(IEC)
发布日期:2013-04-01
实施日期:
标准状态:现行
文件格式:PDF