标准编号：GJB 7678-2012
标准名称：半导体器件 10KeV X 射线辐照加固试验方法
英文名称：10keV X-Ray Radiation Hardened Testing Method of Semiconductor Devices
发布部门：总装
发布日期：2012-07-24
实施日期：2012-09-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准编号：GJB 7678-2012
标准名称：半导体器件 10KeV X 射线辐照加固试验方法
英文名称：10keV X-Ray Radiation Hardened Testing Method of Semiconductor Devices
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发布日期：2012-07-24
实施日期：2012-09-01
标准状态：现行
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