标准编号:IEC 60749-40-2011
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:使用应变计的板级跌落试验方法
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
发布部门:国际电工委员会(IEC)
发布日期:2011-07-01
实施日期:
标准状态:现行
文件格式:PDF