标准编号：IEC 60749-23 Edition
标准名称：
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
发布部门：
发布日期：2011-03-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
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标准状态：现行
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