标准编号:DIN EN 60749-19-2011
标准名称:
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); German version EN 60749-19:2003 + A1:2010
发布部门:
发布日期:2011-01-01
实施日期:2011-01-01
标准状态:现行
文件格式:PDF
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