标准编号：IEC 60749-34-2010
标准名称：半导体器件 机械和环境测试方法 第34部分：电力循环
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
发布部门：
发布日期：2010-10-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准名称：半导体器件 机械和环境测试方法 第34部分：电力循环
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
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