标准编号:BS EN 62415-2010
标准名称:半导体器件 恒定电流电迁移试验
英文名称:Semiconductor devices - Constant current electromigration test
发布部门:
发布日期:2010-07-31
实施日期:2010-07-31
标准状态:现行
文件格式:PDF
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标准编号:BS EN 62415-2010
标准名称:半导体器件 恒定电流电迁移试验
英文名称:Semiconductor devices - Constant current electromigration test
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发布日期:2010-07-31
实施日期:2010-07-31
标准状态:现行
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