标准编号：IEC 60749-19 AMD 1-2010
标准名称：修改件1 半导体器件 机械和环境试验方法 第19部分：剪切强度试验
英文名称：AMENDMENT 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19： Die shear strength test
发布部门：国际电工委员会(IEC)
发布日期：2010-07-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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