标准编号：BS ISO 25498-2010
标准名称：微光束分析 解析电子显微测定法 透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射...
英文名称：Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
发布部门：
发布日期：2010-06-30
实施日期：2010-06-30
标准状态：现行
文件格式：PDF
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