标准编号:JIS K0163-2010
标准名称:表面化学分析 次级离子质谱法 离子注入标样中相对灵敏度系数的测定
英文名称:Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
发布部门:
发布日期:2010-04-20
实施日期:
标准状态:现行
文件格式:PDF