标准编号：JIS C2162-2010
标准名称：高温下SiC装置用栅极绝缘体的长期可靠性试验方法
英文名称：Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature
发布部门：
发布日期：2010-03-23
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准编号：JIS C2162-2010
标准名称：高温下SiC装置用栅极绝缘体的长期可靠性试验方法
英文名称：Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature
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发布日期：2010-03-23
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