标准编号：IEEE C 62.35-2010
标准名称：雪崩结半导体电涌保护器件试验规范
英文名称：Test methods for avalanche junction semiconductor surge-protective device components
发布部门：美国电气电子工程师学会(IEEE)
发布日期：2010-01-01
实施日期：2010-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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