标准编号：DIN EN 60749-38-2008
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错...
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
发布部门：
发布日期：2008-10-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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