标准编号：IEC 60747-1 Corrigendum 1-2008
标准名称：半导体装置 第1部分：总则 技术勘误1
英文名称：Semiconductor devices - Part 1： General; Corrigendum 1
发布部门：国际电工委员会(IEC)
发布日期：2008-09-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准名称：半导体装置 第1部分：总则 技术勘误1
英文名称：Semiconductor devices - Part 1： General; Corrigendum 1
发布部门：国际电工委员会(IEC)
发布日期：2008-09-01
实施日期：
标准状态：现行
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