标准编号：BS EN 60749-38-2008
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 带存储器的半导体器件用软错误试验法
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布部门：
发布日期：2008-06-30
实施日期：2008-06-30
标准状态：现行
文件格式：PDF
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