标准编号：GB/T 4937.4-2012
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2012-11-05
实施日期：2013-02-15
标准状态：现行
文件格式：PDF
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