标准编号：BS EN 60749-37-2008
标准名称：半导体装置 机械和气候试验方法 使用加速计的电路板级落锤试验方法
英文名称：Semiconductordevices — Mechanicaland climatic testmethods —Part 37: Board level drop test methodusing an accelerometer
发布部门：
发布日期：2008-05-30
实施日期：2008-05-30
标准状态：现行
文件格式：PDF
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