标准编号：DIN EN 62374-2008
标准名称：半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
英文名称：Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007
发布部门：
发布日期：2008-02-01
实施日期：2008-02-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。