标准编号：IEC 60749-37-2008
标准名称：半导体装置 机械和气候试验方法 第37部分：用加速计的电路板级落锤试验...
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
发布部门：
发布日期：2008-01-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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