标准编号：DIN EN 60749-35-2007
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第35部分:塑封电子器件的声学显微检测...
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006); German version EN 60749-35:2006
发布部门：
发布日期：2007-03-01
实施日期：2007-03-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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