标准编号:BS EN 62047-2-2006
标准名称:半导体器件 微型机电器件 薄膜材料的拉伸试验方法
英文名称:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
发布部门:
发布日期:2006-11-30
实施日期:2006-11-30
标准状态:现行
文件格式:PDF