标准编号:BS EN 60749-35-2006
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 塑封电子器件的声学显微方法
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
发布部门:
发布日期:2006-11-30
实施日期:2006-11-30
标准状态:现行
文件格式:PDF