标准编号：BS EN 62373-2006
标准名称：金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
英文名称：Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
发布部门：
发布日期：2006-09-29
实施日期：2006-09-29
标准状态：现行
文件格式：PDF
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