标准编号:IEC 60749-33-2005
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速抗湿 无偏压热器
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
发布部门:
发布日期:2005-11-01
实施日期:
标准状态:现行
文件格式:PDF
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