标准编号：IEEE 1500-2005
标准名称：嵌入式基于芯片的集成电路的可试性方法
英文名称：Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits IEEE Computer Society document
发布部门：美国电气电子工程师学会(IEEE)
发布日期：2005-03-20
实施日期：2005-03-20
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。