标准编号：IEC 60749-30-2005
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：可靠性试验之前不气密的表面...
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
发布部门：
发布日期：2005-01-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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