标准编号：BS ISO 17470-2004
标准名称：微电子束分析.电子探测微观分析.用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
英文名称：Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
发布部门：
发布日期：2004-09-29
实施日期：2004-09-29
标准状态：现行
文件格式：PDF
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