标准编号:BS EN 60749-23-2004
标准名称:半导体器件.机械和气候试验方法.高温操作寿命
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - High temperature operating life
发布部门:
发布日期:2004-06-24
实施日期:2004-06-24
标准状态:现行
文件格式:PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们,我们将及时删除相关资源。