标准编号:DIN EN 60749-8-2003
标准名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); German version EN 60749-8:2003
发布部门:
发布日期:2003-12-01
实施日期:2003-12-01
标准状态:现行
文件格式:PDF
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