标准编号：DIN EN 60749-1-2003
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003
发布部门：
发布日期：2003-12-01
实施日期：2003-12-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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