标准编号：DIN EN 60749-5-2003
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003
发布部门：
发布日期：2003-09-01
实施日期：2003-09-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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