标准编号：IEC 60749-4 Corrigendum 1-2003
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：湿热、稳态、高加速应力试验
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4： Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
发布部门：国际电工委员会(IEC)
发布日期：2003-08-01
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。