标准编号:IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:温度的急速变化 双液电镀槽法
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2
发布部门:国际电工委员会(IEC)
发布日期:2003-08-01
实施日期:
标准状态:现行
文件格式:PDF
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